Przejdź do głównej zawartości
Kontynuując przeglądanie tej strony wyrażasz zgodę na nasze polityki
Polityka prywatności dotycząca Cookies
Kontynuuj
x
Drukuj ten rozdział
Podręcznik
6. Testowanie i testowalność układów scalonych
6.1. O defektach i uszkodzeniach w układach cyfrowych
O defektach i uszkodzeniach w układach cyfrowych