2. Statyczne bramki kombinacyjne CMOS

2.13. Charakterystyki przejściowe bramek NOR i NAND

Nasza znajomość parametrów i charakterystyk inwertera da się łatwo uogólnić na bramki wielowejściowe NAND i NOR. Dla wygody przypomnimy ich schematy, które były omówione w części I, punkt 3.2.2.

Rysunek 2 12. Dwuwejściowa bramka NOR

 

Rysunek 2 11. Dwuwejściowa bramka NAND

 

Rozważmy na początek charakterystyki przejściowe i napięcie przełączania bramki NOR. Rozróżnić trzeba dwa przypadki: przełączania równoczesnego obu wejść i przełączania tylko jednego wejścia. 

Rozważymy najpierw przełączanie równoczesne obu wejść. Gdy na oba wejścia doprowadzone są sygnały identycznie zmieniające się w czasie, wejścia te można potraktować jako zwarte. Bramka NOR staje się wówczas równoważna inwerterowi, w którym rolę tranzystora nMOS pełnią dwa tranzystory połączone równolegle, a rolę tranzystora pMOS - dwa tranzystory połączone szeregowo.  Do obliczenia napięcia przełączania można użyć zależności 2-3, w której wartość r daną wzorem 2-4 zastąpimy zmodyfikowaną wartością r\prime:
 

r^\prime=\frac{\mu_p}{\mu_n}\frac{\left(\frac{W}{2L}\right)_p}{\left(\frac{2W}{L}\right)_n}=\frac{1}{4}r (2.12)

 

Uogólniając ten wynik dla bramki NOR o N wejściach otrzymujemy

 

V_p=\frac{V_{Tn}+\frac{1}{N}\sqrt r\left(V_{DD}-\left|V_{Tp}\right|\right)}{1+\frac{1}{N}\sqrt r} (2.13)

 

Analogicznie rozumując dla bramki NAND o N wejściach otrzymujemy

 

V_p=\frac{V_{Tn}+N\sqrt r\left(V_{DD}-\left|V_{Tp}\right|\right)}{1+N\sqrt r} (2.14)

 

W obu wzorach, 2-13 i 2-14, r dane jest wzorem 2-4.

Z zależności 2-13 i 2-14 widać, że jeśli do budowy bramek NOR i NAND użyjemy takich samych tranzystorów, jak dla inwertera, to przy jednoczesnym przełączaniu wejść otrzymamy wartość napięcia przełączania różną od napięcia przełączania inwertera. Różnica jest tym większa, im większa jest liczba wejść bramki.
 

Rysunek 2 13.Charakterystyki przejściowe jednoczesnego przełączania obu wejść dla dwuwejściowych bramek NOR i NAND zbudowanych z takich samych tranzystorów, jak inwerter, w porównaniu z charakterystyką tego inwertera

 

Na rysunku 2-13 pokazano charakterystyki przejściowe inwertera oraz bramek dwuwejściowych NOR i NAND zbudowanych z takich samych tranzystorów jak inwerter. Zmiana napięcia przełączania jest niekorzystna, bowiem zmniejsza odporność bramki na zakłócenia od strony zera (NOR) lub od strony jedynki (NAND).

Przy przełączaniu tylko na jednym wejściu przesunięcie charakterystyki także występuje, ale jest niewielkie. Przykładowo, dla bramki NAND odpowiednie charakterystyki wyglądają następująco:
 

Rysunek 2 14. Charakterystyki przejściowe jednoczesnego przełączania obu wejść oraz każdego wejścia z osobna dla dwuwejściowej bramki NAND zbudowanej z takich samych tranzystorów, jak inwerter, w porównaniu z charakterystyką tego inwertera

 

Przy okazji zauważmy, że charakterystyki przejściowe z wejść A i B nie są identyczne. Oba wejścia są ekwiwalentne z punktu widzenia funkcji logicznej bramki, ale pod względem elektrycznym się różnią. Różnica polega na tym, że tranzystor nMOS połączony z wejściem B ma źródło zwarte z „minusem” zasilania, czyli z podłożem, natomiast tranzystor nMOS połączony z wejściem A ma źródło połączone z drenem tranzystora B, a to jest węzeł elektryczny, na którym napięcie jest ogólnie biorąc wyższe w stosunku do „minusa” zasilania, czyli podłoża. Wobec tego w tym tranzystorze występuję zależność napięcia progowego od polaryzacji podłoża względem źródła. Była o tym mowa w części I, punkt 3.1.5, równanie 3-6. Różnica między tymi charakterystykami jest jednak na tyle mała, że nie ma praktycznego znaczenia.

Bardziej korzystne charakterystyki można uzyskać poszerzając kanały tranzystorów połączonych szeregowo.
 

Rysunek 2 15. Charakterystyki przejściowe jednoczesnego przełączania obu wejść oraz każdego wejścia z osobna dla dwuwejściowej bramki NAND, w której kanały tranzystorów nMOS poszerzono dwukrotnie w stosunku do tranzystora nMOS inwertera, w porównaniu z charakterystyką tego inwertera

 

Stosowana jest tu prosta reguła: kanały te poszerza się tylokrotnie, ile tranzystorów jest połączonych szeregowo. Wówczas stosunek W/L dla całego łańcucha połączonych szeregowo tranzystorów jest taki sam, jak dla pojedynczego tranzystora przed poszerzeniem. W rezultacie charakterystyki przełączania dla poszczególnych wejść nieco się pogarszają, za to poprawia się charakterystyka jednoczesnego przełączania. Rysunek 2-15 pokazuje takie charakterystyki dla dwuwejściowej bramki NAND, w której dwukrotnie zwiększono szerokość kanałów tranzystorów nMOS.

Jak widać, zwymiarowanie tranzystorów w taki sposób, że tranzystory w połączeniu równoległym pozostają bez zmiany, a w połączeniu szeregowym są poszerzone tylokrotnie, ile jest ich w łańcuchu, daje w rezultacie charakterystyki przełączania bliskie symetrycznej charakterystyce inwertera, zapewniające dostateczną odporność bramki na zakłócenia przy wszystkich kombinacjach stanów wejść. Dotyczy to zarówno bramek NOR, jak i NAND. Jednak przesunięcia charakterystyk w stosunku do symetrycznej charakterystyki inwertera, widoczne na rysunku 2-15, rosną przy wzroście liczby wejść. Dlatego statyczne bramki kombinacyjne CMOS nie mogą mieć dowolnie dużej liczby wejść.
 

W praktyce nie stosuje się bramek NOR i NAND o liczbie wejść większej, niż 4.