Podręcznik
5. Podstawy fizyczne złącz półprzewodnikowych
5.2. Złącze metal-półprzewodnik
Właściwości złącza m-s determinuje różnica prac wyjścia elektronów z obydwu materiałów (Am-As) dla półprzewodnika określonego typu (wpływ stanów powierzchniowych tutaj pominięto).
Podobnie jak w złączu p-n, różnica prac wyjścia jest przyczyną przemieszczenia nośników ładunku w obszarze przejściowym złącza m-s w trakcie jego powstawania i tym samym utworzenia dipolowej warstwy ładunku przestrzennego, prowadzącego w równowadze termodynamicznej do wyrównania średnich energii nośników w całej strukturze (poziom Fermiego jest stały). Ze względu na dużą różnicę przewodności, warstwa tego ładunku w metalu jest znikomo cienka, natomiast w półprzewodniku wnika głębiej i wiąże się z zakrzywieniem pasm energetycznych odpowiadającym kontaktowej różnicy potencjałów:
|
(5.14) |
Można rozróżnić dwa istotne przypadki zmiany stanu półprzewodnika przy granicy metalurgicznej i tym samym zaburzenia koncentracji powierzchniowej nośników ładunku:
- akumulacja - wzbogacenie w większościwe nośniki ładunku gdy:
Am< As dla półprzewodnika typu n,
Am> As dla półprzewodnika typu p, - zubożenie - obniżenie koncentracji nośników większościowych, gdy:
Am> As dla półprzewodnika typu n,
Am< As dla półprzewodnika typu p,
podobnie, jak w warstwie zaporowej złącza p-n.
Przypadkom tym odpowiadają inne właściwości elektryczne i zastosowania złącza m-s:
Ad 1) liniowa charakterystyka I-U - tzw. złącze omowe stosowane jako kontakt elektryczny,
Ad 2) niesymetryczna, nieliniowa charakterystyka I-U - tzw. złącze prostujące stosowane w diodach Schottky'ego.
W złączu m-s prostującym nośniki ładunku elektrycznego napotykają na bariery potencjału przedstawione dla półprzewodnika typu n na rys. 5.6: φ0 (barierę Schottky'ego) dla strumienia elektronów płynących z metalu do półprzewodnika, określoną przez pracę wyjścia Am i powinowactwo elektronowe półprzewodnika χs oraz φs (potencjał powierzchniowy) dla strumienia elektronów płynących z pasma przewodnictwa półprzewodnika w przeciwną stronę.
Rys. 5.7. Modele pasmowe: a) metalu i półprzewodnika (odseparowanych), b) złącza m-s prostującego (wraz z rozkładem gęstości ładunku przestrzennego) |
W równowadze termodynamicznej:
|
(przy zaniedbaniu wpływu stanów powierzchniowych). Wymienione strumienie elektronów równoważą się, a odpowiadające im gęstości prądów równe są prądowi emisji termoelektrycznej:
|
(5.15) |
Polaryzacja złącza m-s powoduje zmianę bariery potencjału od strony półprzewodnika (spadek napięcia praktycznie w całości odkłada się na warstwie zubożonej półprzewodnika). Dla polaryzacji przewodzenia (U>0) bariera ta maleje do wartości (φs-U) i strumień elektronów płynących z półprzewodnika do metalu rośnie wykładniczo. Dla polaryzacji zaporowej (U<0) bariera rośnie i strumień ten staje się praktycznie zaniedbywalny w stosunku do strumienia elektronów płynących z metalu do półprzewodnika (tworzących prąd emisji termoelektrycznej).
Charakterystykę prądowo-napięciową złącza m-s można zapisać podobnie, jak dla złącza p-n:
|
(5.16) |
Złącze m-s odróżniają od złącza p-n dwie podstawowe cechy decydujące o jego zastosowaniach:
- spadek napięcia na przewodzącym złączu m-s jest niższy niż na złączu p-n: (φs),
- w przewodzącym złączu m-s elektrony wstrzykiwane do metalu (tzw. gorące elektrony) nie powodują tam zauważalnej zmiany ładunku (praktycznie nie obserwuje się efektu gromadzenia nośników).