Podręcznik

Funkcjonujące przez wiele lat w świadomości metrologów pojęcie systemu pomiarowego w ostatnich latach straciło nieco na aktualności, w odniesieniu do szeregu zastosowań praktycznych. Stało się tak za przyczyną lawinowego rozwoju szeroko rozumianej technologii informacyjnej (informatyka, telekomunikacja). W rezultacie tego rozwoju, pewne znaczące trendy rozwojowe w dziedzinie metrologii narzucone zostały przez informatyków. Wciąż jednak projektowanie czujników pomiarowych, opracowanie metod pomiarowych, opracowanie metod kalibracji przyrządów i układów pomiarowych, legalizacja przyrządów oraz tradycyjnie problematyka analizy błędów pomiarowych i określania niepewności pomiaru pozostają wyłączną domeną metrologów. Powstają tu nowe, śmiałe i oryginalne prace teoretyczne.

System pomiarowy[1] dotychczas określano jako odpowiednio sprzężony zbiór elementów (stąd pojęcie sprzęgu w miejsce interfejsu), stanowiących całość organizacyjną i objętych wspólnym sterowaniem, mający umożliwić jakościową i ilościową ocenę właściwości badanego obiektu pomiarowego. Na rysunku 1.1 zamieszczono uogólniony schemat funkcjonalny systemu pomiarowego, składającego się z bloków, realizujących jedną lub kilka elementarnych funkcji.